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    X射線電鍍膜厚測量儀器

    X射線電鍍膜厚測量儀器是一種用於測量電鍍薄膜、覆蓋層或塗層厚度的儀器。它利用X射線的特性進行測量,通過照射被測試物體並測量反射的X射線來確定其厚度。
    這種儀器通常包括一個X射線源、檢測器、控制和分析軟件。原理是基於X射線的穿透性。當X射線照射到材料表面時,一部分X射線會被材料表面所吸收,一部分則會透過材料並與材料底部的界面反射。通過測量反射的X射線的強度和能量,可以推斷出材料的厚度。
    X射線電鍍膜厚測量儀器廣泛應用於金屬加工、電子元器件製造、塗料工業等領域。它可以測量各種類型的薄膜和覆蓋層,並且能夠用以監測製程中的薄膜厚度變化,以確保產品質量和生產效率。

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    型號: Fischer XDL-XYZP

    可檢測項目:

    • 電鍍膜厚
    • 材質簡易比對

    可檢測材質: 鍍鋅、鍍鋅鎳合金、鍍鎳、鍍銅、鍍錫